وبینار علمی توسعه سیستم پایش ترانسفورماتور قدرت با استفاده از امواج UHF حاصل از تخلیه جزئی
وبینار علمی، Theoretical Investigation of High-k Gate Stacks in nano- MOSFETs
 

لینک شرکت در وبینار
 کد دسترسی: 918307
دانشکده مهندسی برق دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی
🔴 در صورت بروز هرگونه مشکل و یا سوال در مورد نحوه اتصال وبینار،  با ایمیل زیر تماس حاصل نمایید.
f.zarivar@alborz.kntu.ac.ir
 
 
تعداد بازدید:
461
تاریخ:
1400/06/27
امتیازدهی
میانگین امتیازها:3 تعداد کل امتیازها:2
مشاهده نظرات (تعداد نظرات 0)

ارسال نظرات
نام
آدرس پست الكترونيكي شما
شماره تلفن
توضيحات
خواندن کد امنیتی تغییر کد امنیتی
كد امنيت
كليه حقوق اين وب سايت متعلق به دانشگاه خواجه نصير الدين طوسي ميباشد.